SHG100 – Zweite Harmonische Generation

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Transiente Absorptionsreihe
- TA100 – Ultraschnelles TAS
- LFP100 – Blitzphotolyse
- UPSI100 – Pump-Probe Shadowgraph Imaging
- THZ100 – Terahertz
Reihe Fluoreszenzspektroskopie
- TPL300 – Steady-State-/Transient-Fluoreszenz
- Fluoreszenzsystem für tiefes Ultraviolett (DUV).
- UF100 – Ultraschnelle Fluoreszenz
- FLIM300 – Konfokale Fluoreszenz-Lifetime-Imaging-Mikroskopie
Nichtlineare optische Serie
- ZTS100 – Z-Scan
- SHG100 – Zweite Harmonische Generation
Hochgeschwindigkeits-CMOS-Kameraserie
- Hochgeschwindigkeits-CMOS-Kamera
Laser-Serie
- FlatTop DPSS ND:YAG Nanosekundenlaser
- FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO Laser
- Serie zur optischen Inspektion von Halbleitern
  - DISSPEC-9000 SiC-Substratwafer
  - DISPEC-8000 SiC-Substrat/Samen/Boule
  - SiCM-9000 SiC Epi Carrier Lifetime Imaging
  - Leistungsanalyse der Perowskit-Solarzellen SP-1030
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Transiente Absorptionsreihe

Transiente Absorptionsreihe Reihe Fluoreszenzspektroskopie Nichtlineare optische Serie Hochgeschwindigkeitskameraserie Laser-Serie Serie zur optischen Inspektion von Halbleitern

SHG100 ist ein System zur Erzeugung zweiter Harmonischer, das für die Untersuchung von Struktur- und Symmetrieeigenschaften von Materialien optimiert ist. Es ist besonders wertvoll bei der Analyse von Grenzflächen, Defekten und Kristallinität in Halbleitern und dünnen Filmen mit großer Bandlücke.

SHG-System

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