Das FLIM300 ist ein einzigartiges Hochgeschwindigkeits-Fluoreszenz-Bildgebungssystem. Es nutzt einen AliREv-Galvanometerspiegel, um die Fluoreszenzintensität (Lebensdauer) von Proben effizient zu erfassen und so die Aufnahme eines hochwertigen Bildes der Fluoreszenzintensität (Lebensdauer) innerhalb weniger Sekunden zu ermöglichen. Bei Proben, die Trägertransporteigenschaften über große Entfernungen aufweisen, kann das System den Anregungspunkt festlegen und eine Fluoreszenzsignalabtastung durchführen, um Trägermigrationsprozesse zu erkennen. Darüber hinaus kann der FLIM300 mit verschiedenen externen Modulen wie Kryo-Setups, Hochdruckgeräten, (transienten) Photostrom-/Photospannungs-Detektionssystemen und gepulsten Spannungsmodulen integriert werden.
Dies ermöglicht eine breite Palette fortschrittlicher Messungen, einschließlich der Fluoreszenzdynamik unter verschiedenen äußeren Bedingungen, hochauflösender Photostrombildgebung, Studien zur Elektrolumineszenzdynamik und Fluoreszenzlebensdauerbildgebung.
Dies ermöglicht eine breite Palette fortschrittlicher Messungen, einschließlich der Fluoreszenzdynamik unter verschiedenen äußeren Bedingungen, hochauflösender Photostrombildgebung, Studien zur Elektrolumineszenzdynamik und Fluoreszenzlebensdauerbildgebung.
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Spezifikationen
Laserscanning-Galvo-Spiegelsysteme
| Lasereingabe | Laserfaseroptischer Eingang mit elektrisch gesteuertem Membransystem |
| Bildbereich | 4096*4096 Pixel (Max) |
| Wellenlängenbereich | 350-1000 nm |
Inverses Mikroskopmodul
| Ziele | 100x, 50x, 10x Luftlinsen (Ölimmersionslinsen sind optional) |
| Räumliche Auflösung | ≤260 nm |
Modul für stationäre Spektroskopie
| Monochromator | Brennweite: 300 mm |
| Detektor | PMT oder CCD |
| Spektralbereich | 350-870 nm |
TCSPC-Modul
| Zeitgenauigkeit | 7 PS |
| Spektralbereich | 350-870 nm |
| Anzahl der Bin-Kanäle | 4096 |
| Zeitfenster | 5 μs (erweiterbar für Langzeittests) |
| Zeitliche Auflösung | ≤70 PS |
Optionales Modul
| Pikosekundenlaser | 375/405/440/480/510/635/665/690/850/940/1060 nm |
| Pikosekunden-Superkontinuum-Weißlichtlaser | 410-2400 nm |
Fluoreszenzintensitätskartierung, Fluoreszenzlebensdauerkartierung
Konfokaler Scan-Bildgebungsmodus
| Probe | MAPbI₃-Nanodrähte |
| Objektiv | 100X |
| Anregungswellenlänge | 400 nm |
Fluoreszenzkartierung in einer Tieftemperaturkammer
Konfokaler Scan-Bildgebungsmodus
| Probe | MAPbI₃-Nanodrähte |
| Objektiv | 100X |
| Anregungswellenlänge | 400 nm |
Fluoreszenzkartierung in einer Hochdruckkammer
Konfokaler Scan-Mapping-Modus, Trägermigrations-Bildgebungsmodus
| Probe | MAPbI₃-Nanodrähte |
| Objektiv | 100X |
| Anregungswellenlänge | 400 nm |
Kartierung der Carrier-Migration
Konfokaler Scan-Mapping-Modus, Trägermigrations-Bildgebungsmodus
| Probe | MAPbI₃-Nanodrähte |
| Objektiv | 100X |
| Anregungswellenlänge | 400 nm |
Elektrolumineszenz (EL)-Kartierung
Testbedingung
| Probe | QDs-LED | Stromspannung | 10 V | Zeitpräzision | 25 ns |
| Objektiv | 4X Luftlinse | Pulsbreite | 10 uns | Erfassungszeit | 28 Min |
| Anregungswellenlänge | 405 nm | Frequenz | 10 kHz |
Anwendungen
Beispielexperiment
| Probe | Laserchip | Anregungswellenlänge | 515 nm |
Photostrom-Mapping
Beispielexperiment
| Probe | Perowskit-Solarzellengerät |
| Objektiv | 100X |
| Anregungswellenlänge | 405 nm |
