El FLIM300 es un sistema único de imágenes de fluorescencia de alta velocidad. Utiliza un espejo galvanómetro AliRE ving para capturar de manera eficiente la intensidad de fluorescencia (vida útil) de las muestras, lo que permite la adquisición de una imagen de intensidad de fluorescencia (vida útil) de alta calidad en tan solo unos segundos. Para muestras que exhiben características de transporte de portadores de largo alcance, el sistema puede fijar el punto de excitación y realizar un escaneo de señales de fluorescencia para detectar procesos de migración de portadores. Además, el FLIM300 se puede integrar con varios módulos externos, como configuraciones criogénicas, dispositivos de alta presión, sistemas de detección de fotocorriente/fotovoltaje (transitorios) y módulos de voltaje pulsado.
Esto permite una amplia gama de mediciones avanzadas, incluida la dinámica de la fluorescencia en diferentes condiciones externas, imágenes de fotocorriente de alta resolución espacial, estudios de dinámica de electroluminiscencia e imágenes de la vida útil de la fluorescencia.
Esto permite una amplia gama de mediciones avanzadas, incluida la dinámica de la fluorescencia en diferentes condiciones externas, imágenes de fotocorriente de alta resolución espacial, estudios de dinámica de electroluminiscencia e imágenes de la vida útil de la fluorescencia.
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Presupuesto
Sistemas de espejo Galvo de escaneo láser
| Entrada láser | Entrada de fibra óptica láser con sistema de diafragma controlado eléctricamente |
| Rango de imagen | 4096*4096 píxeles (máx.) |
| Rango de longitud de onda | 350-1000 nm |
Módulo de microscopio invertido
| Objetivos | Lentes de aire 100x, 50x, 10x (las lentes de inmersión en aceite son opcionales) |
| Resolución espacial | ≤260 nanómetro |
Módulo de espectroscopia en estado estacionario
| monocromador | Distancia focal: 300 mm |
| Detector | PMT o CCD |
| rango espectral | 350-870 nanómetro |
módulo TCSPC
| Precisión del tiempo | 7 ps |
| rango espectral | 350-870 nanómetro |
| Número de canales Bin | 4096 |
| ventana de tiempo | 5 μs (ampliable para pruebas de larga duración) |
| Resolución de tiempo | ≤70 ps |
Módulo opcional
| Láser de picosegundo | 375/405/440/480/510/635/665/690/850/940/1060 millas náuticas |
| Láser de luz blanca supercontinua de picosegundos | 410-2400 nanómetro |
Mapeo de intensidad de fluorescencia, mapeo de vida útil de fluorescencia
Modo de imágenes de escaneo confocal
| Muestra | Nanocables MAPbI₃ |
| Objetivo | 100X |
| Longitud de onda de excitación | 400 nanómetro |
Mapeo de fluorescencia en una cámara de baja temperatura
Modo de imágenes de escaneo confocal
| Muestra | Nanocables MAPbI₃ |
| Objetivo | 100X |
| Longitud de onda de excitación | 400 nanómetro |
Mapeo de fluorescencia en una cámara de alta presión
Modo de mapeo de escaneo confocal, modo de imágenes de migración de portadores
| Muestra | Nanocables MAPbI₃ |
| Objetivo | 100X |
| Longitud de onda de excitación | 400 nanómetro |
Mapeo de migración de operadores
Modo de mapeo de escaneo confocal, modo de imágenes de migración de portadores
| Muestra | Nanocables MAPbI₃ |
| Objetivo | 100X |
| Longitud de onda de excitación | 400 nanómetro |
Mapeo de electroluminiscencia (EL)
Condición de prueba
| Muestra | LED QD | Voltaje | 10 voltios | Precisión del tiempo | 25 segundos |
| Objetivo | Lente de aire 4X | Ancho de pulso | 10 nosotros | tiempo de adquisición | 28 minutos |
| Longitud de onda de excitación | 405 nanómetro | Frecuencia | 10 kilociclos |
Aplicaciones
Experimento de muestra
| Muestra | chip láser | Longitud de onda de excitación | 515 nanómetro |
Mapeo de fotocorriente
Experimento de muestra
| Muestra | Dispositivo de células solares de perovskita |
| Objetivo | 100X |
| Longitud de onda de excitación | 405 nanómetro |
