banner de produtos
Microscopia de imagem vitalícia de fluorescência confocal de varredura a laser
Microscopia de imagem vitalícia de fluorescência confocal de varredura a laser
O FLIM300 é um sistema exclusivo de imagem por fluorescência de alta velocidade. Ele utiliza um espelho galvanômetro AliRE v ing para capturar com eficiência a intensidade de fluorescência (vida útil) das amostras, permitindo a aquisição de uma imagem de intensidade de fluorescência (vida útil) de alta qualidade em apenas alguns segundos. Para amostras que apresentam características de transporte de transportadores de longo alcance, o sistema pode fixar o ponto de excitação e realizar varredura de sinal de fluorescência para detectar processos de migração de transportadores. Além disso, o FLIM300 pode ser integrado a vários módulos externos, como configurações criogênicas, dispositivos de alta pressão, sistemas de detecção de fotocorrente/fototensão (transitória) e módulos de tensão pulsada.
Isso permite uma ampla gama de medições avançadas, incluindo dinâmica de fluorescência sob diferentes condições externas, imagens de fotocorrente de alta resolução espacial, estudos de dinâmica de eletroluminescência e imagens de fluorescência ao longo da vida.
Pergunte

Especificações

Sistemas de espelho Galvo de digitalização a laser

Entrada laserEntrada de fibra óptica a laser com sistema de diafragma controlado eletricamente
Alcance de imagem4096*4096 pixels (máx.)
Faixa de comprimento de onda350-1000nm


Módulo de microscópio invertido

ObjetivosLentes de ar 100x, 50x, 10x (lentes de imersão em óleo são opcionais)
Resolução espacial≤260nm

Módulo de espectroscopia em estado estacionário

MonocromadorDistância focal: 300 mm
DetectorPMT ou CCD
Faixa espectral350-870nm

Módulo TCSPC

Precisão do tempo7ps
Faixa espectral350-870nm
Número de canais Bin4096
Janela de tempo5 μs (expansível para testes de longa duração)
Resolução de tempo≤70 PS

Módulo opcional

Laser de picossegundo375/405/440/480/510/635/665/690/850/940/1060 nm
Laser de luz branca supercontínua de picossegundos410-2400 nm


Mapeamento de intensidade de fluorescência, mapeamento de vida útil de fluorescência

Modo de imagem de digitalização confocal

AmostraNanofios MAPbI₃
Objetivo100X
Comprimento de onda de excitação400nm

Microscopia de imagem vitalícia de fluorescência confocal de varredura a laser

Mapeamento de fluorescência em uma câmara de baixa temperatura

Modo de imagem de digitalização confocal

AmostraNanofios MAPbI₃
Objetivo100X
Comprimento de onda de excitação400nm

Mapeamento de fluorescência em uma câmara de baixa temperatura

Mapeamento de fluorescência em uma câmara de alta pressão

Modo de mapeamento de varredura confocal, modo de imagem de migração de operadora

AmostraNanofios MAPbI₃
Objetivo100X
Comprimento de onda de excitação400nm

Mapeamento de fluorescência em uma câmara de alta pressão

Mapeamento de migração de operadora

Modo de mapeamento de varredura confocal, modo de imagem de migração de operadora

AmostraNanofios MAPbI₃
Objetivo100X
Comprimento de onda de excitação400nm

Mapeamento de migração de operadora

Mapeamento de eletroluminescência (EL)

lendição de teste

AmostraLED QDTensão10VPrecisão do tempo25 ns
ObjetivoLente de ar 4XLargura de pulso10 nósTempo de aquisição28 minutos
Comprimento de onda de excitação405nmFreqüência10KHz

Mapeamento de eletroluminescência (EL)

Aplicativos

Experimento de amostra

AmostraChip laserComprimento de onda de excitação515nm

Experimento de amostra

Mapeamento de Fotocorrente

Experimento de amostra

AmostraDispositivo de células solares de perovskita
Objetivo100X
Comprimento de onda de excitação405nm

Microscopia de imagem vitalícia de fluorescência confocal de varredura a laser








Ao fornecer soluções inovadoras, confiáveis ​​e escaláveis, capacitamos as indústrias a alcançar precisão e eficiência incomparáveis, impulsionando o progresso na pesquisa e na fabricação em todo o mundo.
Direitos autorais © 2025 Time Tech Spectra. Todos os direitos reservados.| Mapa do site | política de Privacidade