FLIM300 ialah sistem pengimejan pendarfluor berkelajuan tinggi yang unik. Ia menggunakan cermin galvanometer AliRE v ing untuk menangkap dengan cekap keamatan pendarfluor (seumur hidup) sampel, membolehkan pemerolehan imej intensiti pendarfluor (seumur hidup) berkualiti tinggi dalam masa beberapa saat sahaja. Untuk sampel yang mempamerkan ciri pengangkutan pembawa jarak jauh, sistem boleh menetapkan titik pengujaan dan melakukan pengimbasan isyarat pendarfluor untuk mengesan proses migrasi pembawa. Selain itu, FLIM300 boleh disepadukan dengan pelbagai modul luaran seperti tetapan kriogenik, peranti tekanan tinggi, sistem pengesan arus foto/fotovoltan (sementara), dan modul voltan berdenyut.
Ini membolehkan pelbagai ukuran lanjutan, termasuk dinamik pendarfluor di bawah keadaan luaran yang berbeza, pengimejan photocurrent resolusi spatial tinggi, kajian dinamik electroluminescence dan pengimejan seumur hidup pendarfluor.
Ini membolehkan pelbagai ukuran lanjutan, termasuk dinamik pendarfluor di bawah keadaan luaran yang berbeza, pengimejan photocurrent resolusi spatial tinggi, kajian dinamik electroluminescence dan pengimejan seumur hidup pendarfluor.
Tanya
Spesifikasi
Sistem Cermin Galvo Pengimbasan Laser
| Input laser | Input gentian optik laser dengan sistem diafragma yang dikawal secara elektrik |
| Julat pengimejan | 4096*4096 pix (Maks) |
| Julat panjang gelombang | 350-1000 nm |
Modul mikroskop terbalik
| Objektif | Kanta udara 100x, 50x, 10x (kanta rendaman minyak adalah pilihan) |
| Resolusi spatial | ≤260 nm |
Modul spektroskopi keadaan mantap
| monokromator | Panjang fokus: 300 mm |
| Pengesan | PMT atau CCD |
| Julat spektrum | 350-870 nm |
modul TCSPC
| Ketepatan masa | 7 ms |
| Julat spektrum | 350-870 nm |
| Bilangan saluran Bin | 4096 |
| Tetingkap masa | 5 μs (boleh dikembangkan untuk ujian sepanjang hayat) |
| Resolusi masa | ≤70 ps |
Modul pilihan
| Laser picosecond | 375/405/440/480/510/635/665/690/850/940/1060 nm |
| Laser cahaya putih super-kontinu picosecond | 410-2400 nm |
Pemetaan Intensiti Pendarfluor, Pemetaan Sepanjang Hayat Pendarfluor
Mod pengimejan pengimbasan konfokal
| Sampel | wayar nano MAPbI₃ |
| Objektif | 100X |
| Panjang gelombang pengujaan | 400 nm |
Pemetaan Pendarfluor dalam Ruang Suhu Rendah
Mod pengimejan pengimbasan konfokal
| Sampel | wayar nano MAPbI₃ |
| Objektif | 100X |
| Panjang gelombang pengujaan | 400 nm |
Pemetaan Pendarfluor dalam Kebuk Tekanan Tinggi
Mod pemetaan pengimbasan konfokal, mod pengimejan pemindahan pembawa
| Sampel | wayar nano MAPbI₃ |
| Objektif | 100X |
| Panjang gelombang pengujaan | 400 nm |
Pemetaan Migrasi Pembawa
Mod pemetaan pengimbasan konfokal, mod pengimejan pemindahan pembawa
| Sampel | wayar nano MAPbI₃ |
| Objektif | 100X |
| Panjang gelombang pengujaan | 400 nm |
Pemetaan Electroluminescence (EL).
Keadaan ujian
| Sampel | LED QD | Voltan | 10 V | Ketepatan masa | 25 ns |
| Objektif | 4X kanta udara | Lebar nadi | 10 kita | Masa perolehan | 28 min |
| Panjang gelombang pengujaan | 405 nm | Kekerapan | 10 KHz |
Aplikasi
Contoh Eksperimen
| Sampel | Cip laser | Panjang gelombang pengujaan | 515 nm |
Pemetaan Arus Foto
Contoh Eksperimen
| Sampel | Peranti sel solar Perovskite |
| Objektif | 100X |
| Panjang gelombang pengujaan | 405 nm |
