สินค้า-แบนเนอร์
SN-9000 β-Ga₂O₃ ระบบตรวจสอบข้อบกพร่องของพื้นผิวและเอปิแทกซี
SN-9000 β-Ga₂O₃ ระบบตรวจสอบข้อบกพร่องของพื้นผิวและเอปิแทกซี
SN-9000 คือระบบตรวจสอบด้วยแสงแบบไม่ทำลายสำหรับซับสเตรต β-Ga₂O₃ และเวเฟอร์เอพิแอกเซียล ออกแบบมาสำหรับทั้งวัสดุที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้าและวัสดุเจือโดยไม่ได้ตั้งใจ (UID) โดยผสมผสานความแม่นยำและประสิทธิภาพสูงเข้ากับการตรวจสอบซับสเตรตและชั้นเอปิแอกเซียลแบบบูรณาการ เพื่อรองรับการประเมินคุณภาพวัสดุและการเพิ่มประสิทธิภาพกระบวนการ

สำหรับการตรวจสอบซับสเตรต SN-9000 จะระบุความคลาดเคลื่อนในการวางแนวคริสตัลหลายแนว รวมถึงช่องว่าง การปนเปื้อน และรอยขีดข่วน การตรวจจับความคลาดเคลื่อนเชิงเส้น [010] ได้รับการตรวจสอบความถูกต้องข้ามกับ XRT สำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์แบบเอปิเทกเซียล ระบบจะจับข้อบกพร่องทางสัณฐานวิทยาต่างๆ และนำเสนอการจดจำข้อบกพร่องที่ปรับแต่งได้เพื่อให้ตรงตามข้อกำหนดการตรวจสอบที่แตกต่างกัน

ด้วยความแม่นยำในการจับคู่ตำแหน่งข้อบกพร่องที่ 1 μm ทำให้ SN-9000 ช่วยให้เกิดความสัมพันธ์ที่แม่นยำของข้อบกพร่องระหว่างซับสเตรตและชั้นเอปิแอกเชียล ความสามารถนี้ช่วยให้ผู้ใช้ติดตามการแพร่กระจายของข้อบกพร่องจากซับสเตรตไปยังชั้นเอปิแทกเซียล ตรวจสอบสาเหตุที่แท้จริง และปรับปรุงกระบวนการของซับสเตรตและเอพิทาซี ระบบรองรับตัวอย่างขนาด 1 × 1 ซม. และเวเฟอร์ขนาด 2, 4, 6 และ 8 นิ้ว สำหรับเวเฟอร์ขนาด 2 นิ้ว ปริมาณงานการตรวจสอบจะเกิน 4 เวเฟอร์ต่อชั่วโมงสำหรับซับสเตรต และ 12 เวเฟอร์ต่อชั่วโมงสำหรับเวเฟอร์เอพิเทเชียล
สอบถาม

คุณสมบัติ

01

ไม่ทำลาย

02

การตรวจสอบพื้นผิวและเอพิเวเฟอร์

03

ความแม่นยำสูงและประสิทธิภาพสูง

ข้อมูลจำเพาะ

วัสดุ ประเภทสื่อกระแสไฟฟ้าและประเภท UID β-Ga₂O₃ พื้นผิวและเวเฟอร์เอปิแอกเชียล
ขนาดเวเฟอร์ 1 × 1 ซม., 2', 4', 6', 8'
ประเภทข้อบกพร่อง
พื้นผิว: การเคลื่อนตัว, ช่องว่าง, การปนเปื้อน, รอยขีดข่วน
Epitaxy: ลักษณะที่ปรับแต่งได้ของข้อบกพร่องทางสัณฐานวิทยาต่างๆ ภายใน Crystal Lattice
ปริมาณงานการตรวจสอบ
β-Ga₂O₃ พื้นผิว: >4 WPH @ 2'
β-Ga₂O₃ Epitaxy: >12 WPH @ 2'

ตัวอย่าง

Atlas แผนที่ระบุข้อบกพร่อง SN-9000 สำหรับพื้นผิวแกลเลียมออกไซด์

แผนที่การระบุข้อบกพร่อง SN-9000 สำหรับพื้นผิวแกลเลียมออกไซด์
  • SN-9000 ช่วยให้สามารถระบุคุณลักษณะแบบไม่ทำลายของซับสเตรต Ga₂O₃ ระบุความคลาดเคลื่อนในการวางแนวคริสตัลหลายทิศทาง และตรวจจับข้อบกพร่องของพื้นผิว เช่น ช่องว่าง รอยขีดข่วน และการปนเปื้อน

2 การตรวจสอบความคลาดเคลื่อนของ SN-9000 ผ่านการตรวจสอบข้ามกับ XRT

การตรวจสอบความคลาดเคลื่อนของ SN-9000 ผ่านการตรวจสอบข้ามกับ XRT
  • SN-9000 ตรวจจับ [010] ความคลาดเคลื่อนเชิงเส้นในซับสเตรต Ga₂O₃ ซึ่งมีการวัดประสิทธิภาพเทียบกับ XRT อย่างแม่นยำ

3 Ga₂O₃ เวเฟอร์อีปิแอกเชียล: แผนที่การรับรู้ข้อบกพร่องหลายประเภท

แผนที่การรับรู้ข้อบกพร่องหลายประเภท Ga₂O₃ Epitaxial Wafer
  • SN-9000 จับข้อบกพร่องทางสัณฐานวิทยาต่างๆ ในชั้นอีปิแอกเชียล Ga₂O₃ อย่างแม่นยำ พร้อมการจดจำข้อบกพร่องที่ปรับแต่งได้ในตัว
ด้วยการนำเสนอโซลูชันที่เป็นนวัตกรรม เชื่อถือได้ และปรับขนาดได้ เราช่วยให้อุตสาหกรรมต่างๆ บรรลุความแม่นยำและประสิทธิภาพที่ไม่มีใครเทียบได้ ขับเคลื่อนความก้าวหน้าในการวิจัยและการผลิตทั่วโลก
ลิขสิทธิ์ © 2025 ไทม์ เทค สเปกตรัม สงวนลิขสิทธิ์.| แผนผังเว็บไซต์ | นโยบายความเป็นส่วนตัว