Sistem Pencirian Komprehensif Semikonduktor Celah Jalur Lebar Gred Penyelidikan :

Ciri Produk

• Bahan Diuji: SiC, GaN, Ga203, AlGaN, berlian dan semikonduktor celah jalur lebar/ultra lebar lain

• Julat Panjang Gelombang Luas: 206/257/343/515/1030 nm (pensuisan bermotor) (Pengujaan UV dalam hingga 192 nm boleh dicapai berdasarkan laser 800 nm)

• Fungsi Komprehensif: Bersepadu PL, Raman, SHG, dan pelbagai teknik spektroskopi

  
  

Spesifikasi

Modul Pendarfluor

Ciri-ciri	Pendarfluor keadaan mantap	Pengimejan medan luas, Spektrum Pelepasan PL, PLI, Pengimejan Spektrum PL
	Pendarfluor Sementara	FLIM (melalui TCSPC)
Berkelajuan Tinggi	Sumber LED	265, 310, 365 nm (boleh dipilih)
	Kawasan Pencahayaan Seragam	>1cm²
	Resolusi	>1.5 μm/piksel
	Kamera	2048×2048 piksel, 6.5 μm px, 13.31 × 13.31 mm penderia
Sumber Cahaya Pengujaan*	Modul PSH 1030 nm fs-LD	515 nm, 343 nm, 257 nm, 206 nm Panjang Gelombang (Sehingga 1 MHz frekuensi penalaan)
Julat Pengesanan Pengimejan Spektrum (Kamera sCMOS)		200-1000 nm (menyokong pengimejan UV-Vis-NIR)
Julat Pengesanan Intensiti PL (PMT)		190-870 nm
Resolusi Spatial		Resolusi sehingga 500 nm (dengan objektif rendaman minyak 100×)
Modul TCSPC	IRF	≤300 ps
	TR	≤60 ps
Terjemahan Stag	Kapasiti Muatan	5 kg
	Jarak Perjalanan**	30 sm (X,Y)/1.5 sm (Z)
	Min. Saiz Langkah	100 nm
	Kelurusan	<4 μm
	Kebolehulangan Dwiarah	±0.3 μm (X,Y); ±0.15 μm (Z)
	Standard	Termasuk pemandu dan pengawal dengan keupayaan output isyarat segerak

Modul Raman

Sumber Pengujaan	Panjang Gelombang Pengujaan	532 nm/633 nm/785 nm (Pilihan Lain)
	Kuasa Pengujaan	>150 mw (532 nm)
Resolusi Spektrum Raman		<1.5 sm⁻⊃1; (300 mm panjang fokus, 500 nm nyala@1800g/mm)
Resolusi Spatial	Resolusi Paksi	<1 μm@10 μm Lubang jarum; <2 μm@50 μm Lubang jarum
	Resolusi Lateral	500 nm (100×Objektif)
Kamera*	Jenis CMOS	BSI sCMOS
	Julat Pengesanan	200-1000 nm
	Resolusi	2048×2048 piksel (13.3×13.3 mm penderia)

Modul SHG

Panjang Gelombang Pengujaan		Laser Femtosaat (Laser Picosaat pada 1064 nm pilihan)
Pengesan PMT	Julat Pengesanan	190-870 nm
Modul Pengimbasan Kelajuan Tinggi	Jenis Imbasan	Pengimbasan Peringkat Kelajuan Tinggi yang disegerakkan
	Min. Saiz Langkah	50 nm
	Kebolehulangan	250 nm
	Kelajuan	300 mm/s (maks)
Kawalan Polarisasi Pengujaan		Bermotor

Modul Mikroskop

Jenis Mikroskop		Mikroskop tegak modular boleh dikembangkan
Jenis Sumber Cahaya		Sistem pencahayaan LED
Mod Pencahayaan		Pencahayaan episkopik
Konfigurasi Objektif		5×, 10×, 20×, 40×, 50×, 60×, 100× Objektif rendaman udara/minyak
Modul Autofokus (Pilihan)	Kelajuan Respons	40 ms
	Sensitiviti	200 nm

Modul Spektrometer

Jenis Spektrometer		Czerny-Turner
Panjang Fokus		200, 300, 500 mm (boleh dipilih)
Serakan Linear Salingan		2.44 nm/mm @435.84 nm @1200g/mm parut
Mengimbas Resolusi Langkah		0.02 nm @1200g/mm parut
Resolusi Spektrum	PMT	0.08 nm
	CCD (25 μm piksel)	0.14 nm
Ketepatan Panjang Gelombang		±0.1 nm (@1200 g/mm)
Kebolehulangan Panjang Gelombang		0.01 nm (@1200 g/mm)

Keupayaan Pengembangan

Penyaman Medan Luaran	Boleh dilanjutkan kepada suhu rendah, tekanan tinggi dan medan magnet luaran

Permohonan