sepanduk produk
Sistem Pencirian Komprehensif Semikonduktor Celah Jalur Lebar Gred Penyelidikan
Sistem Pencirian Komprehensif Semikonduktor Celah Jalur Lebar Gred Penyelidikan
Bahan Diuji: SiC, GaN, Ga203, AlGaN, berlian dan semikonduktor celah jalur lebar/ultra-lebar lain
Julat Panjang Gelombang Luas: 206/257/343/515/1030 nm (pensuisan bermotor) (Pengujaan UV dalam hingga 192 nm boleh dicapai berdasarkan 8000nm
Komprehensif, laser Komprehensif 8000nm) SHG, dan pelbagai teknik spektroskopi
Tanya


Ciri Produk

  • Bahan Diuji: SiC, GaN, Ga203, AlGaN, berlian dan semikonduktor celah jalur lebar/ultra lebar lain

  • Julat Panjang Gelombang Luas: 206/257/343/515/1030 nm (pensuisan bermotor) (Pengujaan UV dalam hingga 192 nm boleh dicapai berdasarkan laser 800 nm)

  • Fungsi Komprehensif: Bersepadu PL, Raman, SHG, dan pelbagai teknik spektroskopi


Spesifikasi

Modul Pendarfluor

Ciri-ciriPendarfluor keadaan mantapPengimejan medan luas, Spektrum Pelepasan PL, PLI, Pengimejan Spektrum PL
Pendarfluor SementaraFLIM (melalui TCSPC)
Berkelajuan TinggiSumber LED265, 310, 365 nm (boleh dipilih)
Kawasan Pencahayaan Seragam>1cm²
Resolusi>1.5 μm/piksel
Kamera2048×2048 piksel, 6.5 μm px, 13.31 × 13.31 mm penderia
Sumber Cahaya Pengujaan*Modul PSH 1030 nm fs-LD515 nm, 343 nm, 257 nm, 206 nm Panjang Gelombang (Sehingga 1 MHz frekuensi penalaan)
Julat Pengesanan Pengimejan Spektrum (Kamera sCMOS)
200-1000 nm (menyokong pengimejan UV-Vis-NIR)
Julat Pengesanan Intensiti PL (PMT)
190-870 nm
Resolusi Spatial
Resolusi sehingga 500 nm (dengan objektif rendaman minyak 100×)
Modul TCSPCIRF≤300 ps
TR≤60 ps
Terjemahan StagKapasiti Muatan5 kg
Jarak Perjalanan**30 sm (X,Y)/1.5 sm (Z)
Min. Saiz Langkah100 nm
Kelurusan<4 μm
Kebolehulangan Dwiarah±0.3 μm (X,Y); ±0.15 μm (Z)
StandardTermasuk pemandu dan pengawal dengan keupayaan output isyarat segerak

Modul Raman

Sumber PengujaanPanjang Gelombang Pengujaan532 nm/633 nm/785 nm (Pilihan Lain)
Kuasa Pengujaan>150 mw (532 nm)
Resolusi Spektrum Raman
<1.5 cm⁻¹ (300 mm panjang fokus, 500 nm nyala@1800g/mm)
Resolusi SpatialResolusi Paksi<1 μm@10 μm Lubang jarum; <2 μm@50 μm Lubang jarum
Resolusi Lateral500 nm (100×Objektif)
Kamera*Jenis CMOSBSI sCMOS
Julat Pengesanan200-1000 nm
Resolusi2048×2048 piksel (13.3×13.3 mm penderia)

Modul SHG

Panjang Gelombang Pengujaan
Laser Femtosaat (Laser Picosaat pada 1064 nm pilihan)
Pengesan PMTJulat Pengesanan190-870 nm
Modul Pengimbasan Kelajuan TinggiJenis ImbasanPengimbasan Peringkat Kelajuan Tinggi yang disegerakkan
Min. Saiz Langkah50 nm
Kebolehulangan250 nm

Kelajuan300 mm/s (maks)
Kawalan Polarisasi Pengujaan
Bermotor

Modul Mikroskop

Jenis Mikroskop
Mikroskop tegak modular boleh dikembangkan
Jenis Sumber Cahaya
Sistem pencahayaan LED
Mod Pencahayaan
Pencahayaan episkopik
Konfigurasi Objektif
5×, 10×, 20×, 40×, 50×, 60×, 100× Objektif rendaman udara/minyak
Modul Autofokus (Pilihan)Kelajuan Respons40 ms
Sensitiviti200 nm

Modul Spektrometer

Jenis Spektrometer
Czerny-Turner
Panjang Fokus
200, 300, 500 mm (boleh dipilih)
Serakan Linear Salingan
2.44 nm/mm @435.84 nm @1200g/mm parut
Mengimbas Resolusi Langkah
0.02 nm @1200g/mm parut
Resolusi SpektrumPMT0.08 nm
CCD (25 μm piksel)0.14 nm
Ketepatan Panjang Gelombang
±0.1 nm (@1200 g/mm)
Kebolehulangan Panjang Gelombang
0.01 nm (@1200 g/mm)

Keupayaan Pengembangan



Penyaman Medan LuaranBoleh dilanjutkan kepada suhu rendah, tekanan tinggi dan medan magnet luaran


Permohonan

aplikasi



aplikasiaplikasi

aplikasi

aplikasi

aplikasi

aplikasi




Dengan menyampaikan penyelesaian yang inovatif, boleh dipercayai dan berskala, kami memperkasakan industri untuk mencapai ketepatan dan kecekapan yang tiada tandingan, memacu kemajuan dalam penyelidikan dan pembuatan di seluruh dunia.
Hak Cipta © 2025 Time Tech Spectra. Hak Cipta Terpelihara.| Peta laman | Dasar Privasi