Sistem Karakterisasi Komprehensif Semikonduktor Celah Pita Lebar Tingkat Penelitian
Rumah » Produk » Seri Spektroskopi Fluoresensi » Sistem Karakterisasi Komprehensif Semikonduktor Celah Pita Lebar » Sistem Karakterisasi Komprehensif Semikonduktor Celah Pita Lebar Tingkat Penelitian

memuat

Sistem Karakterisasi Komprehensif Semikonduktor Celah Pita Lebar Tingkat Penelitian :

Ketersediaan
Bahan yang Diuji: SiC, GaN, Ga203, AlGaN, berlian, dan semikonduktor celah pita lebar/ultra lebar lainnya
Kisaran Panjang Gelombang Luas: 206/257/343/515/1030 nm (switching bermotor) (eksitasi UV dalam hingga 192 nm dapat dicapai berdasarkan laser 800 nm)
Fungsi Komprehensif: PL, Raman, SHG, dan berbagai teknik spektroskopi terintegrasi
Dengan memberikan solusi yang inovatif, andal, dan terukur, kami memberdayakan industri untuk mencapai presisi dan efisiensi yang tak tertandingi, sehingga mendorong kemajuan dalam penelitian dan manufaktur di seluruh dunia.

Kategori Produk

Tautan Cepat

Info Kontak
Telp: +1(888)-510-0926
Tetap Berhubungan
Tetap Berhubungan
Hak Cipta © 2025 Time Tech Spectra. Semua Hak Dilindungi Undang-undang.| Peta Situs | Kebijakan Privasi