
TAU-9000/9000HR เครื่องมือถ่ายภาพอายุการใช้งาน SiC Wafer Minority Carrier ความละเอียดสูง ใช้การถ่ายภาพสเปกโทรสโกปีแบบแก้ไขตามเวลาเพื่อระบุลักษณะเฉพาะของซับสเตรต SiC และเวเฟอร์เอพิแทกเซียล โดยสนับสนุนคุณสมบัติของวัสดุ การตรวจสอบการผลิต และ R&D โดยให้ข้อมูลการวัดสำหรับการควบคุมคุณภาพ การเพิ่มประสิทธิภาพกระบวนการ และการวิเคราะห์ข้อบกพร่อง
เครื่องมือเหล่านี้รองรับทั้งการทำแผนที่แบบเต็มเวเฟอร์และการถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบแปลเป็นภาษาท้องถิ่น ในโหมดเวเฟอร์เต็ม จะได้ความละเอียดเชิงพื้นที่ 100 μm เพื่อระบุลักษณะการกระจายอายุการใช้งานและความสม่ำเสมอของผู้ให้บริการรายย่อย รองรับเวเฟอร์ขนาด 6, 8 และ 12 นิ้ว โดยใช้เวลาการวัดน้อยกว่า 10 นาทีต่อเวเฟอร์ขนาด 6 นิ้ว ในโหมดจุลทรรศน์ ความละเอียดเชิงพื้นที่สูงถึง 0.9 μm ทำให้สามารถเห็นภาพความแปรผันของอายุการใช้งานที่เกี่ยวข้องกับการเคลื่อนตัวของเกลียวและความผิดพลาดในการเรียงซ้อน ความละเอียดชั่วคราวที่ <2 ns ช่วยให้สามารถระบุลักษณะของทั้งซับสเตรตที่มีอายุการใช้งานสั้นและชั้นเอพิแทกเซียลได้
การกระตุ้นที่ 355 นาโนเมตรและ 266 นาโนเมตรแบบสลับได้ช่วยให้สามารถแยกและจัดทำแผนที่อายุการใช้งานพาหะของชนกลุ่มน้อยจำนวนมากและความเร็วการรวมตัวของพื้นผิวได้อย่างอิสระ เครื่องมือเหล่านี้รองรับการวัดอัตโนมัติเต็มรูปแบบ โดยมีตัวเลือกห้องเก็บตัวอย่างแบบกำจัดไนโตรเจนหรือแบบสุญญากาศ เพื่อลดการแทรกแซงจากสิ่งแวดล้อมและรักษาสภาพพื้นผิวของตัวอย่าง โมดูลควบคุมอุณหภูมิที่เป็นอุปกรณ์เสริมซึ่งครอบคลุมอุณหภูมิห้องจนถึง 200°C ช่วยให้การตรวจวัดอายุการใช้งานขึ้นอยู่กับอุณหภูมิ เพื่อตรวจสอบกลไกการรวมตัวของตัวพาและคุณลักษณะของสถานะกับดัก
เครื่องมือเหล่านี้รองรับทั้งการทำแผนที่แบบเต็มเวเฟอร์และการถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบแปลเป็นภาษาท้องถิ่น ในโหมดเวเฟอร์เต็ม จะได้ความละเอียดเชิงพื้นที่ 100 μm เพื่อระบุลักษณะการกระจายอายุการใช้งานและความสม่ำเสมอของผู้ให้บริการรายย่อย รองรับเวเฟอร์ขนาด 6, 8 และ 12 นิ้ว โดยใช้เวลาการวัดน้อยกว่า 10 นาทีต่อเวเฟอร์ขนาด 6 นิ้ว ในโหมดจุลทรรศน์ ความละเอียดเชิงพื้นที่สูงถึง 0.9 μm ทำให้สามารถเห็นภาพความแปรผันของอายุการใช้งานที่เกี่ยวข้องกับการเคลื่อนตัวของเกลียวและความผิดพลาดในการเรียงซ้อน ความละเอียดชั่วคราวที่ <2 ns ช่วยให้สามารถระบุลักษณะของทั้งซับสเตรตที่มีอายุการใช้งานสั้นและชั้นเอพิแทกเซียลได้
การกระตุ้นที่ 355 นาโนเมตรและ 266 นาโนเมตรแบบสลับได้ช่วยให้สามารถแยกและจัดทำแผนที่อายุการใช้งานพาหะของชนกลุ่มน้อยจำนวนมากและความเร็วการรวมตัวของพื้นผิวได้อย่างอิสระ เครื่องมือเหล่านี้รองรับการวัดอัตโนมัติเต็มรูปแบบ โดยมีตัวเลือกห้องเก็บตัวอย่างแบบกำจัดไนโตรเจนหรือแบบสุญญากาศ เพื่อลดการแทรกแซงจากสิ่งแวดล้อมและรักษาสภาพพื้นผิวของตัวอย่าง โมดูลควบคุมอุณหภูมิที่เป็นอุปกรณ์เสริมซึ่งครอบคลุมอุณหภูมิห้องจนถึง 200°C ช่วยให้การตรวจวัดอายุการใช้งานขึ้นอยู่กับอุณหภูมิ เพื่อตรวจสอบกลไกการรวมตัวของตัวพาและคุณลักษณะของสถานะกับดัก
สอบถาม





