สินค้า-แบนเนอร์
TAU-9000/9000HR เครื่องมือสร้างภาพอายุการใช้งานของผู้ให้บริการภาพส่วนน้อยของเวเฟอร์อีปิแอกเชียลความละเอียดสูง
TAU-9000/9000HR เครื่องมือสร้างภาพอายุการใช้งานของผู้ให้บริการภาพส่วนน้อยของเวเฟอร์อีปิแอกเชียลความละเอียดสูง
TAU-9000/9000HR เครื่องมือถ่ายภาพอายุการใช้งาน SiC Wafer Minority Carrier ความละเอียดสูง ใช้การถ่ายภาพสเปกโทรสโกปีแบบแก้ไขตามเวลาเพื่อระบุลักษณะเฉพาะของซับสเตรต SiC และเวเฟอร์เอพิแทกเซียล โดยสนับสนุนคุณสมบัติของวัสดุ การตรวจสอบการผลิต และ R&D โดยให้ข้อมูลการวัดสำหรับการควบคุมคุณภาพ การเพิ่มประสิทธิภาพกระบวนการ และการวิเคราะห์ข้อบกพร่อง

เครื่องมือเหล่านี้รองรับทั้งการทำแผนที่แบบเต็มเวเฟอร์และการถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบแปลเป็นภาษาท้องถิ่น ในโหมดเวเฟอร์เต็ม จะได้ความละเอียดเชิงพื้นที่ 100 μm เพื่อระบุลักษณะการกระจายอายุการใช้งานและความสม่ำเสมอของผู้ให้บริการรายย่อย รองรับเวเฟอร์ขนาด 6, 8 และ 12 นิ้ว โดยใช้เวลาการวัดน้อยกว่า 10 นาทีต่อเวเฟอร์ขนาด 6 นิ้ว ในโหมดจุลทรรศน์ ความละเอียดเชิงพื้นที่สูงถึง 0.9 μm ทำให้สามารถเห็นภาพความแปรผันของอายุการใช้งานที่เกี่ยวข้องกับการเคลื่อนตัวของเกลียวและความผิดพลาดในการเรียงซ้อน ความละเอียดชั่วคราวที่ <2 ns ช่วยให้สามารถระบุลักษณะของทั้งซับสเตรตที่มีอายุการใช้งานสั้นและชั้นเอพิแทกเซียลได้

การกระตุ้นที่ 355 นาโนเมตรและ 266 นาโนเมตรแบบสลับได้ช่วยให้สามารถแยกและจัดทำแผนที่อายุการใช้งานพาหะของชนกลุ่มน้อยจำนวนมากและความเร็วการรวมตัวของพื้นผิวได้อย่างอิสระ เครื่องมือเหล่านี้รองรับการวัดอัตโนมัติเต็มรูปแบบ โดยมีตัวเลือกห้องเก็บตัวอย่างแบบกำจัดไนโตรเจนหรือแบบสุญญากาศ เพื่อลดการแทรกแซงจากสิ่งแวดล้อมและรักษาสภาพพื้นผิวของตัวอย่าง โมดูลควบคุมอุณหภูมิที่เป็นอุปกรณ์เสริมซึ่งครอบคลุมอุณหภูมิห้องจนถึง 200°C ช่วยให้การตรวจวัดอายุการใช้งานขึ้นอยู่กับอุณหภูมิ เพื่อตรวจสอบกลไกการรวมตัวของตัวพาและคุณลักษณะของสถานะกับดัก
สอบถาม

คุณสมบัติที่สำคัญ

  • ปริมาณงานสูง: 5-10 นาที/เวเฟอร์

  • ความละเอียดชั่วคราวสูง: <2 ns

  • ความละเอียดเชิงพื้นที่สูง: ~275 μm (โหมดเวเฟอร์เต็ม);~0.9 μm (โหมดความละเอียดสูง)


ข้อมูลจำเพาะ

วัสดุ

สารตั้งต้น SiC และชั้น epitaxis

ขนาดเวเฟอร์

6', 8' และ 12'

ปริมาณงานการตรวจสอบ

5-10 นาที/เวเฟอร์

ความละเอียดชั่วคราว

<2 น

ความละเอียดเชิงพื้นที่

~275 μm (โหมดเวเฟอร์เต็ม); ~0.9 μm (โหมดความละเอียดสูง)

ความยาวคลื่นกระตุ้น

355 นาโนเมตร / 266 นาโนเมตร (สำหรับการตรวจสอบจำนวนมากและพื้นผิว)

ช่วงการวัดอายุการใช้งาน

20ns-10 มิลลิวินาที

เข้ากันได้กับอีพิเลเยอร์ที่มีความหนาต่างกันโดยไม่ถูกรบกวนจากซับสเตรต


ตัวอย่างกรณี

ข้อมูลที่มีอยู่

ข้อมูลที่มีอยู่

จุดเด่นของอุปกรณ์

1 การถ่ายภาพเฉพาะจุดของเวเฟอร์อีปิแอกเซียลที่ความละเอียดเชิงพื้นที่ 0.9 ไมโครเมตร

การถ่ายภาพเฉพาะจุดของเวเฟอร์อีปิแอกเซียลที่ความละเอียดเชิงพื้นที่ 0.9 ไมโครเมตร

โหมดการถ่ายภาพความละเอียดสูงช่วยให้มองเห็นข้อบกพร่องได้โดยตรง รวมถึง TD และ SF และแยกอายุการใช้งานพาหะส่วนน้อยได้โดยตรง อายุการใช้งานของผู้ให้บริการรายย่อยในพื้นที่ SF นั้นสั้นกว่าอายุการใช้งานในพื้นที่ปกติ

2 การสร้างภาพการกระจายอายุการใช้งานของผู้ให้บริการรายย่อยสำหรับเวเฟอร์อีปิแอกเซียลทั่วไปที่มีความหนาต่างกัน

การถ่ายภาพการกระจายอายุการใช้งานของผู้ให้บริการรายย่อยสำหรับเวเฟอร์อีปิแอกเซียลทั่วไปที่มีความหนาต่างกัน

เข้ากันได้กับข้อกำหนดในการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์เอพิแทกเซียลที่มีความหนาต่างกัน ระบบเดียวครอบคลุมสถานการณ์กระบวนการที่หลากหลายตั้งแต่การวิจัยและพัฒนาไปจนถึงการผลิตจำนวนมาก ช่วยให้ลูกค้าสร้างมาตรฐานการประเมินคุณภาพที่เป็นหนึ่งเดียว ลดการลงทุนอุปกรณ์ และปรับปรุงประสิทธิภาพด้านการวิจัยและพัฒนาและการผลิต

3 รองรับการถ่ายภาพอายุการใช้งานของผู้ให้บริการรายย่อยของพื้นผิว

การถ่ายภาพอายุการใช้งานของผู้ให้บริการรายย่อยของพื้นผิว

อุปกรณ์ของเราช่วยให้สามารถตรวจวัดอายุการใช้งานของสารพาหะรายย่อยของซับสเตรตได้ จึงสนับสนุนการประเมินคุณภาพวัสดุ การเพิ่มประสิทธิภาพกระบวนการ และการปรับปรุงผลผลิต

④ การแก้ปัญหาอายุการใช้งานแบบเทกองและพาหะของพื้นผิวสำหรับ Epi-Layers แบบหนาผ่านการกระตุ้น 355 นาโนเมตรและ 266 นาโนเมตร

การวิเคราะห์อายุการใช้งานของตัวพาหะจำนวนมากและบนพื้นผิว

ด้วยการแยกการแมปอายุการใช้งานที่ได้รับที่ 266 นาโนเมตรและ 355 นาโนเมตร ระบบจะจัดเตรียมรูปภาพที่แยกจากกันของอายุการใช้งานของผู้ให้บริการรายย่อยจำนวนมากและความเร็วการรวมตัวใหม่ของพื้นผิว นำเสนอข้อมูลเชิงลึกที่ลึกซึ้งยิ่งขึ้นเกี่ยวกับการประเมินคุณภาพวัสดุ

⑤ การวัดอายุการใช้งานของผู้ให้บริการรายย่อยที่อุณหภูมิต่างกัน

การวัดอายุการใช้งานของผู้ให้บริการรายย่อยที่อุณหภูมิต่างกัน

เมื่อเปรียบเทียบกับอุณหภูมิห้อง อายุการใช้งานของพาหะรายย่อยจะยาวนานขึ้นที่ 175 °C และการกระจายตัวของสารก็เปลี่ยนแปลงไปด้วย

ด้วยการนำเสนอโซลูชันที่เป็นนวัตกรรม เชื่อถือได้ และปรับขนาดได้ เราช่วยให้อุตสาหกรรมต่างๆ บรรลุความแม่นยำและประสิทธิภาพที่ไม่มีใครเทียบได้ ขับเคลื่อนความก้าวหน้าในการวิจัยและการผลิตทั่วโลก
ลิขสิทธิ์ © 2025 ไทม์ เทค สเปกตรัม สงวนลิขสิทธิ์.| แผนผังเว็บไซต์ | นโยบายความเป็นส่วนตัว