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| El sistema de prueba de imágenes/espectroscopia de segunda generación armónica (SHG) TTS utiliza un láser de femtosegundo de fibra de 1030 nm como fuente de excitación. Al integrar un módulo de microscopio óptico vertical con una etapa de escaneo sincronizada de alta velocidad, permite obtener imágenes rápidas de intensidad SHG. | |||||||||
Característica de productos
Mapeo de intensidad de SHG dependiente de la polarización (gráficos polares)
El software gira la placa de media onda para cambiar la polarización automáticamente y mide la intensidad de SHG en función de la polarización del láser de entrada.
Imágenes de intensidad SHG de alta velocidad y alta resolución (mapeo SHG)
Utilizando una etapa sincronizada de alta velocidad, un detector de alta sensibilidad y una tarjeta de adquisición de alta velocidad, el sistema alcanza velocidades de escaneo superiores a 700 puntos/s.
Medición de la intensidad de SHG versus potencia de excitación
El ajuste de potencia del láser controlado por software permite una adquisición rápida de espectros de SHG bajo diferentes potencias de excitación.
Fácil integración de fluorescencia confocal, Raman y otros módulos para obtener imágenes de vida útil de fluorescencia, espectroscopia/imágenes Raman, etc.
Presupuesto
| Fuente de luz de excitación | Láser de femtosegundo de 1030 nm |
| Ampliación objetiva | 5×,20×,50×,100× (otros aumentos disponibles bajo petición) |
| Resolución espacial | <2μm (objetivo 50x) |
| Escenario motorizado de alta velocidad | Tamaño de paso mínimo: 50 nm Repetibilidad: 250 nm Salida sincronizada Velocidad máxima de escaneo: 300 mm/s |
| Control de polarización | Espectrómetro de rejilla de longitud focal de 320 mm Espectrómetro de fibra opcional |
| Fuente de luz | CONDUJO |
| Función de software | Adquisición y procesamiento de datos Selección de ROI Movimiento del campo de visión Control de polarización Control de velocidad de escaneo |
| Módulo de extensión |
Admite etapa de baja temperatura, fluorescencia confocal y vida útil (incluida electroluminiscencia), módulos Raman |
Datos de muestra

Figura 1. Muestra de WS₂ monocapa: (A) Imagen óptica de campo brillante; (B) imágenes de SHG; (C) Diagrama de intensidad de SHG dependiente de la polarización.

Figura 2. Muestra de WS₂ monocapa: (A) Imagen óptica de campo brillante; (B) Imágenes SHG (polarización de 35°); (C) Imágenes SHG (polarización de 70°). Las diferencias de señal en tres regiones de muestra surgen de diferentes orientaciones.

Figura 3. (A) Espectros SHG bajo diferentes potencias de luz de excitación; (B) Gráfico a escala logarítmica de la intensidad de SHG frente al poder de excitación.