
Sistem uji spektroskopi/pencitraan TTS Second Harmonic Generation (SHG) menggunakan laser serat femtosecond 1030 nm sebagai sumber eksitasi. Mengintegrasikan modul mikroskop optik tegak dengan tahap pemindaian berkecepatan tinggi yang tersinkronisasi, memungkinkan pencitraan intensitas SHG yang cepat.
Menanyakan


