| 가용성: | |||||||||
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| TTS SHG(Second Harmonic Generation) 분광학/이미징 테스트 시스템은 여기 소스로 1030nm 파이버 펨토초 레이저를 사용합니다. 수직 광학 현미경 모듈과 동기화된 고속 스캐닝 스테이지를 통합하여 신속한 SHG 강도 이미징이 가능합니다. | |||||||||
제품특징
편광 의존형 SHG 강도 매핑(극좌표)
소프트웨어는 반파장판을 회전시켜 편광을 자동으로 변경하고 입력 레이저 편광의 함수로 SHG 강도를 측정합니다.
고속, 고해상도 SHG 강도 이미징(SHG 매핑)
동기화된 고속 스테이지, 고감도 검출기 및 고속 획득 카드를 사용하여 시스템은 700 포인트/초 이상의 스캐닝 속도를 달성합니다.
SHG 강도 대 여기 전력 측정
소프트웨어로 제어되는 레이저 전력 조정을 통해 다양한 여기 전력에서 SHG 스펙트럼을 빠르게 획득할 수 있습니다.
형광 수명 이미징, 라만 분광학/이미징 등을 위한 공초점 형광, 라만 및 기타 모듈의 손쉬운 통합
명세서
| 여기 광원 | 1030nm 펨토초 레이저 |
| 객관적인 배율 | 5×,20×,50×,100×(요청 시 다른 배율도 가능) |
| 공간 해상도 | <2μm(50x 대물렌즈) |
| 고속 전동 스테이지 | 최소 스텝 크기: 50 nm 반복성: 250 nm 동기화된 출력 최대 스캔 속도: 300 mm/s |
| 편광 제어 | 320mm 초점 거리 격자 분광계 옵션 섬유 분광계 |
| 광원 | 주도의 |
| 소프트웨어 기능 | 데이터 획득 및 처리 ROI 선택 시야 이동 편광 제어 스캔 속도 제어 |
| 확장 모듈 |
저온 단계 공초점 형광 및 수명(전자발광 포함), 라만 모듈 지원 |
샘플 데이터

그림 1. 단층 WS₂의 샘플: (A) 광학 명시야 이미지; (B) SHG 이미징; (C) 편광 의존형 SHG 강도 다이어그램.

그림 2. 단층 WS₂ 샘플: (A) 광학 명시야 이미지; (B) SHG 이미징(35° 편광); (C) SHG 이미징(70° 편광). 세 개의 샘플 영역에 걸친 신호 차이는 서로 다른 방향에서 발생합니다.

그림 3. (A) 다양한 여기광 전력에서의 SHG 스펙트럼; (B) SHG 강도 대 여기 전력의 로그 규모 플롯.