Please Choose Your Language
English
Español
Português
Deutsch
日本語
한국어
Tiếng Việt
ไทย
ភាសាខ្មែរ
Bahasa Melayu
Bahasa Indonesia
Consulta
Hogar
Productos
Serie de absorción transitoria
Sistema de espectroscopia de absorción transitoria ultrarrápida TA-PRO
Sistema de espectroscopia de absorción transitoria ultrarrápida TA-LITE
FP100-Fotólisis por flash láser
Serie de espectroscopia de fluorescencia
Sistema de imágenes de fluorescencia confocal de escaneo láser FLIM500
Sistema integral de espectroscopía SOLARIUM-L para materiales/dispositivos de perovskita
Serie óptica no lineal
Sistema SHG - Segunda Generación Armónica
Sistema de escaneo Z
Serie de cámaras de alta velocidad
Cámara CMOS de alta velocidad
Serie láser
Láser de nanosegundos DPSS ND-YAG de alta energía
Láser DPSS YAG-OPO de alta energía y alta frecuencia
Serie de inspección óptica de semiconductores
Obleas de sustrato de SiC DISPEC-9000
DISPEC-8000 Sustrato/Semilla/Bola de SiC
Imágenes de vida útil del portador TAU-9000 SiC Epi
Sistema de detección de súper resolución de obleas EPI de SiC SR-9000
Análisis del rendimiento de las células solares de perovskita SP-1030
Sobre nosotros
Noticias y blogs
Piezas y componentes
Soporte y contacto
Grupo de productos
Serie de absorción transitoria
TA AUTO/MINI - TAS ultrarrápido
TA-LITE-Sistema de espectroscopía de absorción transitoria ultrarrápida
FP100 - Fotólisis flash
UPSI100 - Imagen de gráfico de sombras con sonda de bomba
THZ100 - Terahercios
Serie de espectroscopia de fluorescencia
TPL300 - Fluorescencia transitoria/de estado estacionario
Sistema integral de caracterización de semiconductores de banda ancha
UF100 - Fluorescencia ultrarrápida
FLIM300: microscopía de imágenes de por vida de fluorescencia confocal
Serie óptica no lineal
ZTS100 - Escaneo Z
SHG100 - Segunda Generación Armónica
Serie de cámaras CMOS de alta velocidad
Cámara CMOS de alta velocidad
Serie láser
Láser de nanosegundos FlatTop DPSS ND:YAG
Láser FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO
Serie de inspección óptica de semiconductores
DISPEC-9000 Sistema automático de inspección de defectos de dislocación de sustrato de SiC no destructivo
DISPEC-8000 Sistema de inspección de defectos de dislocación 3 en 1 de lingote/semilla/sustrato de SiC no destructivo
Sistema de imágenes de por vida para portadores minoritarios TAU-9000
Análisis del rendimiento de las células solares de perovskita SP-1030
Sistema de detección de súper resolución SR-9000 para dispositivos y obleas EPI de SiC
Almacenar
Piezas y componentes
Oscilador/amplificador paramétrico óptico
Láser de colorante pulsado de nanosegundos sintonizable
Índice de palabras clave populares
0-9
A
B
do
D
mi
F
GRAMO
h
I
j
k
l
METRO
norte
oh
PAG
q
R
S
t
Ud.
V
W.
incógnita
Y
z
Al ofrecer soluciones innovadoras, confiables y escalables, permitimos a las industrias lograr una precisión y eficiencia incomparables, impulsando el progreso en la investigación y la fabricación en todo el mundo.
Categoría de producto
Serie de absorción transitoria
Serie de espectroscopia de fluorescencia
Serie óptica no lineal
Serie de cámaras de alta velocidad
Serie láser
Serie de inspección óptica de semiconductores
Enlaces rápidos
Hogar
Sobre nosotros
Productos
Noticias y blogs
Almacenar
Soporte y contacto
Información de contacto
Teléfono: +1(888)-510-0926
Correo electrónico:
sales@timetechna.com
Carrera
Mantenerse en contacto
Mantenerse en contacto
Entregar
Copyright © 2025 Time Tech Spectra. Todos los derechos reservados.｜
Mapa del sitio
|
política de privacidad
