:
Alle
Produktname
Produktschlüsselwort
Produktmodell
Produktzusammenfassung
Produktbeschreibung
Mehrfeldsuche
Please Choose Your Language
English
Español
Português
Deutsch
日本語
한국어
Tiếng Việt
ไทย
ភាសាខ្មែរ
Bahasa Melayu
Bahasa Indonesia
Anfrage
Heim
Produkte
Transiente Absorptionsreihe
TA AUTO/MINI – Ultraschnelles TAS
LFP100 – Laserblitzphotolyse
UPSI100 – Pump-Probe Shadowgraph Imaging
THZ100 – Terahertz
Reihe Fluoreszenzspektroskopie
TPL300 – Steady-State-/Transient-Fluoreszenz
Umfassendes Charakterisierungssystem für Halbleiter mit großer Bandlücke
UF100 – Ultraschnelle Fluoreszenz
FLIM300 – Konfokale Fluoreszenz-Lifetime-Imaging-Mikroskopie
Nichtlineare optische Serie
ZTS100 – Z-Scan
SHG100 – Zweite Harmonische Generation
Hochgeschwindigkeitskameraserie
Hochgeschwindigkeits-CMOS-Kamera
Laser-Serie
FlatTop DPSS ND:YAG Nanosekundenlaser
FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO Laser
Serie zur optischen Inspektion von Halbleitern
DISSPEC-9000 SiC-Substratwafer
DISPEC-8000 SiC-Substrat/Samen/Boule
SiCM-9000 SiC Epi Carrier Lifetime Imaging
Leistungsanalyse der Perowskit-Solarzellen SP-1030
Umfassendes Test- und Analysesystem auf Mikro-LED-Waferebene
Über uns
Nachrichten und Blogs
Teile und Komponenten
Support & Kontakt
Please Choose Your Language
English
Español
Português
Deutsch
日本語
한국어
Tiếng Việt
ไทย
ភាសាខ្មែរ
Bahasa Melayu
Bahasa Indonesia
:
Alle
Produktname
Produktschlüsselwort
Produktmodell
Produktzusammenfassung
Produktbeschreibung
Mehrfeldsuche
Heim
Produkte
Transiente Absorptionsreihe
TA AUTO/MINI – Ultraschnelles TAS
LFP100 – Laserblitzphotolyse
UPSI100 – Pump-Probe Shadowgraph Imaging
THZ100 – Terahertz
Reihe Fluoreszenzspektroskopie
TPL300 – Steady-State-/Transient-Fluoreszenz
Umfassendes Charakterisierungssystem für Halbleiter mit großer Bandlücke
UF100 – Ultraschnelle Fluoreszenz
FLIM300 – Konfokale Fluoreszenz-Lifetime-Imaging-Mikroskopie
Nichtlineare optische Serie
ZTS100 – Z-Scan
SHG100 – Zweite Harmonische Generation
Hochgeschwindigkeitskameraserie
Hochgeschwindigkeits-CMOS-Kamera
Laser-Serie
FlatTop DPSS ND:YAG Nanosekundenlaser
FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO Laser
Serie zur optischen Inspektion von Halbleitern
DISSPEC-9000 SiC-Substratwafer
DISPEC-8000 SiC-Substrat/Samen/Boule
SiCM-9000 SiC Epi Carrier Lifetime Imaging
Leistungsanalyse der Perowskit-Solarzellen SP-1030
Umfassendes Test- und Analysesystem auf Mikro-LED-Waferebene
Über uns
Nachrichten und Blogs
Teile und Komponenten
Support & Kontakt
Produktgruppe
Transiente Absorptionsreihe
TA AUTO/MINI – Ultraschnelles TAS
LFP100 – Blitzphotolyse
UPSI100 – Pump-Probe Shadowgraph Imaging
THZ100 – Terahertz
Reihe Fluoreszenzspektroskopie
TPL300 – Steady-State-/Transient-Fluoreszenz
Umfassendes Charakterisierungssystem für Halbleiter mit großer Bandlücke
UF100 – Ultraschnelle Fluoreszenz
FLIM300 – Konfokale Fluoreszenz-Lifetime-Imaging-Mikroskopie
Nichtlineare optische Serie
ZTS100 – Z-Scan
SHG100 – Zweite Harmonische Generation
Hochgeschwindigkeits-CMOS-Kameraserie
Hochgeschwindigkeits-CMOS-Kamera
Laser-Serie
FlatTop DPSS ND:YAG Nanosekundenlaser
FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO Laser
Serie zur optischen Inspektion von Halbleitern
DISSPEC-9000 Automatisches, zerstörungsfreies SiC-Substrat-Versetzungsdefekt-Inspektionssystem
DISPEC-8000 Zerstörungsfreies 3-in-1-System zur Inspektion von Versetzungsfehlern aus SiC-Ingots/Seed/Substrat
TAU-9000 Minority Carrier Lifetime Imaging System
Leistungsanalyse der Perowskit-Solarzellen SP-1030
SR-9000 Super-Resolution-Detektionssystem für SiC-EPI-Wafer und -Geräte
Optischer parametrischer Oszillator/Verstärker
Abstimmbarer gepulster Nanosekunden-Farbstofflaser
Speichern
Teile und Komponenten
Hot-Keyword-Index
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
ICH
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
Durch die Bereitstellung innovativer, zuverlässiger und skalierbarer Lösungen ermöglichen wir Branchen, beispiellose Präzision und Effizienz zu erreichen und so den Fortschritt in Forschung und Fertigung weltweit voranzutreiben.
Produktkategorie
Transiente Absorptionsreihe
Reihe Fluoreszenzspektroskopie
Nichtlineare optische Serie
Hochgeschwindigkeitskameraserie
Laser-Serie
Serie zur optischen Inspektion von Halbleitern
Quicklinks
Heim
Über uns
Produkte
Nachrichten & Blogs
Speichern
Support & Kontakt
Kontaktinformationen
Tel.: +1(888)-510-0926
E-Mail:
sales@timetechna.com
Karriere
Den Kontakt halten
Den Kontakt halten
Einreichen
Copyright © 2025 Time Tech Spectra. Alle Rechte vorbehalten.|
Sitemap
|
Datenschutzrichtlinie