Umfassendes Test- und Analysesystem auf Mikro-LED-Waferebene
Heim » Produkte » Umfassendes Test- und Analysesystem auf Mikro-LED-Waferebene
Dieses Produkt ist nicht mehr verfügbar

Laden

des umfassenden Test- und Analysesystems auf Mikro-LED-Waferebene :

Verfügbarkeit
Produktfunktion
Herunterladen


Produktfunktion


  • Wafergröße testen: 4'

  • Mess-uLED-Typ: RGB

  • Hellfeld-/PL-Testtyp: Hellfeld-Defektanalyse, Elektrodendefektanalyse, PL-Defektanalyse

  • Elektrische EL-Testelemente: VI-Kurve, IR1/IR2/IR3, VF1/VF2/VF3

  • Elemente für kolorimetrische EL-Tests: Cx, Cy, WLD und EQE

  • PL/AOI-Testgeschwindigkeit: 10 Min./Stück (4')

  • EL-Testgeschwindigkeit: 1,5 s/Chip zu Chip


Durch die Bereitstellung innovativer, zuverlässiger und skalierbarer Lösungen ermöglichen wir Branchen, beispiellose Präzision und Effizienz zu erreichen und so den Fortschritt in Forschung und Fertigung weltweit voranzutreiben.

Produktkategorie

Quicklinks

Kontaktinformationen
Tel.: +1(888)-510-0926
Den Kontakt halten
Den Kontakt halten
Copyright © 2025 Time Tech Spectra. Alle Rechte vorbehalten.｜ Sitemap | Datenschutzrichtlinie