Sistem Pengujian dan Analisis Komprehensif Tahap Wafer LED Mikro
Rumah » Produk » Sistem Pengujian dan Analisis Komprehensif Tahap Wafer LED Mikro
Produk ini tidak lagi tersedia

memuatkan

Sistem Ujian dan Analisis Komprehensif Tahap Wafer LED Mikro :

Ketersediaan
Ciri Produk
Muat turun


Ciri Produk


  • Menguji saiz wafer: 4'

  • Mengukur jenis uLED: RGB

  • Jenis ujian medan terang/PL: Analisis kecacatan medan terang, analisis kecacatan elektrod, analisis kecacatan PL

  • Item ujian elektrik EL: lengkung VI, IR1/IR2/IR3, VF1/VF2/VF3

  • Item ujian kolorimetrik EL: Cx, Cy, WLD dan EQE

  • Kelajuan ujian PL/AOI: 10 min/pcs (4')

  • Kelajuan ujian EL: 1.5 s/mati untuk mati


Dengan menyampaikan penyelesaian yang inovatif, boleh dipercayai dan berskala, kami memperkasakan industri untuk mencapai ketepatan dan kecekapan yang tiada tandingan, memacu kemajuan dalam penyelidikan dan pembuatan di seluruh dunia.

Kategori Produk

Pautan Pantas

Maklumat Hubungan
Tel: +1(888)-510-0926
Sentiasa Berhubung
Sentiasa Berhubung
Hak Cipta © 2025 Time Tech Spectra. Hak Cipta Terpelihara.｜ Peta laman | Dasar Privasi