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Blitzphotolysesystem-FP100
Blitzphotolysesystem-FP100
Das FP100 ist in der Lage, materialdynamische Prozesse über Zeitskalen von Nanosekunden bis hin zu Sekunden zu untersuchen.
Das System verfügt über ein Dual-Detektor-Design, das ein Signal-Rausch-Verhältnis von bis zu 0,1 mOD erreicht und gleichzeitig einen Spektralbereich
von 250 bis 900 nm abdeckt (mit optionaler Erweiterung auf den Nahinfrarot- und Mittelinfrarotbereich). Es ist mit einem proprietären DPSS-Nanosekundenlaser (diodengepumpter Festkörperlaser) gekoppelt, der sich durch lange Lebensdauer, hohe Stabilität und vollautomatische Wellenlängenumschaltung auszeichnet. Das System ist auch mit Fluoreszenzlebensdauermessungen kompatibel und kann mit einer geschlossenen Kamera (ICMOS) für eine schnelle, kontinuierliche zeitaufgelöste spektrale und kinetische Datenerfassung ausgestattet werden.
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Produktübersicht


Das FP100 ist in der Lage, materialdynamische Prozesse über Zeitskalen von Nanosekunden bis hin zu Sekunden zu untersuchen.

Das System verfügt über ein Dual-Detektor-Design, das ein Signal-Rausch-Verhältnis von bis zu 0,1 mOD erreicht und gleichzeitig einen Spektralbereich von 250 bis 900 nm abdeckt (mit optionaler Erweiterung auf den Nahinfrarot- und Mittelinfrarotbereich). Es ist mit einem proprietären DPSS-Nanosekundenlaser (diodengepumpter Festkörperlaser) gekoppelt, der sich durch lange Lebensdauer, hohe Stabilität und vollautomatische Wellenlängenumschaltung auszeichnet. 

Das System ist auch mit Fluoreszenzlebensdauermessungen kompatibel und kann mit einer geschlossenen Kamera (ICMOS) für eine schnelle, kontinuierliche zeitaufgelöste spektrale und kinetische Datenerfassung ausgestattet werden.


Spezifikationen


Wichtigste technische Indikatoren

LichtquelleXenonlampe
Spektralbereich185–2000 nm
ModusÜbertragungsmodus
Spektraler Erfassungsbereich250–900 nm
Empfindlichkeit≤0,1 mOD
Zeitfenster≤0,1 s (Abhängig von der Laserwiederholungsrate)
IRF≤5 ns


DPSS Nanosekunden-OPO-Laser

Laserausgangswellenlängen1064/532/355/266 nm
OPO-abstimmbare Wellenlänge210-2300 nm
SoftwareDatenerfassung, Analyse und Anpassung usw.


Weitere erweiterbare Inhalte

Erfassungsbereich des NIR-Moduls900-1600 nm
Erkennungsbereich des MIR-Moduls1-12 μm
Schnelle SpektralerfassungIsCMOS-Detektor, optischer Verschluss 3 ns


Anwendung


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