Please Choose Your Language
English
Español
Português
Deutsch
日本語
한국어
Tiếng Việt
ไทย
ភាសាខ្មែរ
Bahasa Melayu
Bahasa Indonesia
ការសាកសួរ
ផ្ទះ
ផលិតផល
ការស្រូបយកបណ្តោះអាសន្ន
ប្រព័ន្ធ TA-PRO Ultrafast Transient Absorption Spectroscopy
TA-LITE ប្រព័ន្ធស្រូបស្រូបឆ្លងអន្តរកាល Ultrafast Absorption Spectroscopy
FP100- ឡាស៊ែរពន្លឺ រូបថត
ការថតចំលង fluorenscence Spectroscopy
FLIM500 ស្កែនឡាស៊ែរ ប្រព័ន្ធរូបភាពហ្វ្លុយអូរីស
ប្រព័ន្ធវិសាលគមទូលំទូលាយ SOLARIUM-L សម្រាប់សម្ភារៈ/ឧបករណ៍ Perovskite
អុបទិកមិនលីនេអ៊ែរ
ប្រព័ន្ធ SHG - ជំនាន់អាម៉ូនិកទីពីរ
ប្រព័ន្ធស្កេន Z
កាមេរ៉ាល្បឿនលឿន
ឧបករណ៍ចាប់សញ្ញាល្បឿនលឿនស៊េរី Zephyrus
ឡាស៊ែរ
ថាមពលខ្ពស់ DPSS ND-YAG ឡាស៊ែរណាណូវិនាទី
ថាមពលខ្ពស់ និងប្រេកង់ខ្ពស់ DPSS YAG-OPO Laser
ការត្រួតពិនិត្យអុបទិក semicondustor
DISPEC-9000 SiC Substrate Wafers
DISPEC-8000 SiC ស្រទាប់ខាងក្រោម/គ្រាប់ពូជ/ប៊ូល។
TAU-9000 SiC Epi Carrier Lifetime Imaging
ប្រព័ន្ធ SR-9000 SiC EPI-Wafers Super-Resolution Detection System
SP-1030 Perovskite ការវិភាគការអនុវត្តកោសិកាពន្លឺព្រះអាទិត្យ
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពក្នុងបណ្តាញរួមបញ្ចូលគ្នាសម្រាប់ Perovskite Photovoltaics
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពក្រៅបណ្តាញរួមបញ្ចូលគ្នាសម្រាប់ Perovskite Photovoltaics
SN-9000 Β-Ga₂O₃ ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម និង Epitaxy
Y300 ឧបករណ៍វាស់ស្ទង់ស្រូបដោយស្វ័យប្រវត្តិសម្រាប់ SiC Wafers ពាក់កណ្តាលអ៊ីសូឡង់
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម GaN
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម SL-9000 InP / GaAs
ព័ត៌មាន & ប្លុក
ផ្នែក និងសមាសធាតុ
ជំនួយ និងទំនាក់ទំនង
អំពីពួកយើង
ប្រភេទផលិតផល
ស៊េរីស្រូបយកបណ្តោះអាសន្ន
TA AUTO/MINI - TAS លឿនបំផុត។
TA-LITE-Ultrafast Transient Absorption Spectroscopy ប្រព័ន្ធ
FP100 - ការថតរូបពន្លឺ
UPSI100 - ការថតរូបភាពស្រមោលរបស់ Pump-Probe
THZ100 - Terahertz
ស៊េរី វិសាលគម ហ្វ្លុយអូរ៉ែនសេន
TPL300 - ភាពស្ថិតស្ថេរ/ហ្វ្លុយអូរីសបណ្តោះអាសន្ន
Wide Bandgap Semiconductor Comprehensive Characterization System
UF100 - ហ្វ្លុយអូរីសលឿនបំផុត។
FLIM300 - មីក្រូទស្សន៍រូបភាព ហ្វ្លុយអូរីស ប្រសព្វពេញមួយជីវិត
ស៊េរីអុបទិកមិនមែនលីនេអ៊ែរ
ZTS100 - Z-ស្កេន
SHG100 - ជំនាន់អាម៉ូនិកទីពីរ
ស៊េរីកាមេរ៉ា CMOS ល្បឿនលឿន
កាមេរ៉ា CMOS ល្បឿនលឿន
ស៊េរីឡាស៊ែរ
FlatTop DPSS ND:YAG Nanosecond Laser
FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO Laser
ស៊េរីអធិការកិច្ចអុបទិក Semiconductor
DISPEC-8000 ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាព SiC Ingot/Seed/Substrate 3-in-1
ប្រព័ន្ធរូបភាពពេញមួយជីវិតរបស់ក្រុមហ៊ុនដឹកជញ្ជូនជនជាតិភាគតិច TAU-9000
SP-1030 Perovskite ការវិភាគការអនុវត្តកោសិកាពន្លឺព្រះអាទិត្យ
ប្រព័ន្ធរកឃើញគុណភាពបង្ហាញខ្ពស់ SR-9000 សម្រាប់ SiC EPI-Wafers និងឧបករណ៍
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម GaN
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពក្នុងបណ្តាញរួមបញ្ចូលគ្នាសម្រាប់ Perovskite Photovoltaics
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពក្រៅបណ្តាញរួមបញ្ចូលគ្នាសម្រាប់ Perovskite Photovoltaics
SIC
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម SL-9000 InP / GaAs
SN-9000 Β-Ga₂O₃ ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម និង Epitaxy
Y300 ឧបករណ៍វាស់ស្ទង់ស្រូបដោយស្វ័យប្រវត្តិសម្រាប់ SiC Wafers ពាក់កណ្តាលអ៊ីសូឡង់
ហាង
ផ្នែក និងសមាសធាតុ
តាមរយៈការផ្តល់ដំណោះស្រាយប្រកបដោយភាពច្នៃប្រឌិត ដែលអាចទុកចិត្តបាន និងអាចធ្វើមាត្រដ្ឋានបាន យើងផ្តល់សិទ្ធិអំណាចដល់ឧស្សាហកម្មនានា ដើម្បីសម្រេចបាននូវភាពជាក់លាក់ និងប្រសិទ្ធភាពដែលមិនអាចប្រៀបផ្ទឹមបាន ដែលជំរុញឱ្យមានវឌ្ឍនភាពក្នុងការស្រាវជ្រាវ និងការផលិតនៅទូទាំងពិភពលោក។
ប្រភេទផលិតផល
ស៊េរីស្រូបយកបណ្តោះអាសន្ន
ស៊េរី វិសាលគម ហ្វ្លុយអូរ៉ែនសេន
ស៊េរីអុបទិកមិនមែនលីនេអ៊ែរ
ស៊េរីកាមេរ៉ាល្បឿនលឿន
ស៊េរីឡាស៊ែរ
ស៊េរីអធិការកិច្ចអុបទិក Semicondustor
តំណភ្ជាប់រហ័ស
ផ្ទះ
អំពីពួកយើង
ផលិតផល
ព័ត៌មាន និង ប្លុក
ហាង
ជំនួយ និងទំនាក់ទំនង
ព័ត៌មានទំនាក់ទំនង
ទូរស័ព្ទ៖ +1(888)-510-0926
អ៊ីមែល៖
sales@timetechna.com
អាជីព
រក្សាទំនាក់ទំនង
រក្សាទំនាក់ទំនង
ដាក់ស្នើ
រក្សាសិទ្ធិ © 2025 Time Tech Spectra ។ រក្សាសិទ្ធិគ្រប់យ៉ាង..|
ផែនទីគេហទំព័រ
|
គោលការណ៍ឯកជនភាព