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| Der LFP100 ist in der Lage, materialdynamische Prozesse über Zeitskalen von Nanosekunden bis hin zu Sekunden zu untersuchen. Das System verfügt über ein Dual-Detektor-Design, das ein Signal-Rausch-Verhältnis von bis zu 0,1 mOD erreicht und gleichzeitig einen Spektralbereich von 250 bis 900 nm abdeckt (mit optionaler Erweiterung auf den Nahinfrarot- und Mittelinfrarotbereich). Es ist mit einem proprietären DPSS-Nanosekundenlaser (diodengepumpter Festkörperlaser) gekoppelt, der sich durch lange Lebensdauer, hohe Stabilität und vollautomatische Wellenlängenumschaltung auszeichnet. Das System ist auch mit Fluoreszenzlebensdauermessungen kompatibel und kann mit einer geschlossenen Kamera (ICMOS) für eine schnelle, kontinuierliche zeitaufgelöste spektrale und kinetische Datenerfassung ausgestattet werden. |
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Der LFP100 ist in der Lage, materialdynamische Prozesse über Zeitskalen von Nanosekunden bis hin zu Sekunden zu untersuchen.
Das System verfügt über ein Dual-Detektor-Design, das ein Signal-Rausch-Verhältnis von bis zu 0,1 mOD erreicht und gleichzeitig einen Spektralbereich von 250 bis 900 nm abdeckt (mit optionaler Erweiterung auf den Nahinfrarot- und Mittelinfrarotbereich). Es ist mit einem proprietären DPSS-Nanosekundenlaser (diodengepumpter Festkörperlaser) gekoppelt, der sich durch lange Lebensdauer, hohe Stabilität und vollautomatische Wellenlängenumschaltung auszeichnet.
Das System ist auch mit Fluoreszenzlebensdauermessungen kompatibel und kann mit einer geschlossenen Kamera (ICMOS) für eine schnelle, kontinuierliche zeitaufgelöste spektrale und kinetische Datenerfassung ausgestattet werden.
Wichtigste technische Indikatoren
| Lichtquelle | Xenonlampe |
| Spektralbereich | 185–2000 nm |
| Modus | Übertragungsmodus |
| Spektraler Erfassungsbereich | 250–900 nm |
| Empfindlichkeit | ≤0,1 mOD |
| Zeitfenster | ≤0,1 s (Abhängig von der Laserwiederholungsrate) |
| IRF | ≤5 ns |
DPSS Nanosekunden-OPO-Laser
| Laserausgangswellenlängen | 1064/532/355/266 nm |
| OPO-abstimmbare Wellenlänge | 210-2300 nm |
| Software | Datenerfassung, Analyse und Anpassung usw. |
Weitere erweiterbare Inhalte
| Erfassungsbereich des NIR-Moduls | 900-1600 nm |
| Erkennungsbereich des MIR-Moduls | 1-12 μm |
| Schnelle Spektralerfassung | IsCMOS-Detektor, optischer Verschluss 3 ns |
