| Ketersediaan | |||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| UPS100 menggunakan modulasi perbezaan laluan optik antara rasuk kuar pam. Dengan melaraskan kelewatan nadi melalui garisan kelewatan ketepatan, ia menangkap evolusi kerosakan akibat laser pada skala masa ps - mengatasi had kamera konvensional. Pada masa yang sama memantau dinamik spatiotemporal plasma menggunakan teknologi gating ICCD. | |||||||||
Gambaran Keseluruhan Produk
UPS100 menggunakan modulasi perbezaan laluan optik antara rasuk kuar pam. Dengan melaraskan kelewatan nadi melalui garisan kelewatan ketepatan, ia menangkap evolusi kerosakan akibat laser pada skala masa ps - mengatasi had kamera konvensional. Pada masa yang sama memantau dinamik spatiotemporal plasma menggunakan teknologi gating ICCD.
Spesifikasi
Petunjuk Teknikal Utama
| Mod | Kerosakan optik ultra-pantas/Plasma sputtering |
| Tetingkap masa | 8 ns |
| Jenis pengesan | IsCMOS(masa pintu: 3 ns) |
| Pengesanan IRF | <1.5X Lebar Nadi |
| Objektif | 20X/50X boleh dipilih |
| Pergerakan contoh | Pergerakan 2D automatik |
| Fungsi perisian | Perisian pemerolehan/analisis data |
Permohonan


Fungsi ini terutamanya menggunakan ciri pemerolehan berpagar kamera dan kelewatan untuk menangkap proses sputtering plasma sampel pada pelbagai saat. Keseluruhan proses ujian melibatkan memfokuskan laser pada sampel, yang menghasilkan plasma. Pada peringkat ini, masa pendedahan kamera ditetapkan, berfungsi sebagai 'pintu.' Pemasa kemudian dilaraskan untuk melambatkan 'pintu' berbanding masa laser sampai ke sampel, dengan itu menangkap proses sputtering plasma pada selang masa yang berbeza.