| 可用性: | |||||||||
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| TA-AUTO および TA-MINI は、さまざまな材料の光誘起電子遷移および励起状態ダイナミクスを調査するために設計された過渡吸収分光計です。 TA-AUTO: 紫外 (UV) から可視および近赤外 (NIR)、中赤外 (MIR) までの広いスペクトル範囲をカバーします。 TA-MINI: 紫外 (UV) から可視までの広いスペクトル範囲をカバーします。
フェムト秒からマイクロ秒までの時間分解能をサポートします。これらのシステムは顕微鏡モジュールと統合して、
高空間分解能の過渡吸収分光法を実現できます。
さらに、これらのシステムには高速 CMOS エリア カメラを組み込むことができ、空間欠陥マッピングや
キャリア拡散と移動度の特性評価が可能になります。高繰り返し率のレーザー光源の場合は、高速検出器を使用してさらに拡張して検出感度を向上させることができ、検出限界は -5 OD ≦ 10 に達します。 |
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製品の特長
マルチモード・マルチレンジ検出: 透過・反射・逆励起モードを搭載。検出スペクトルは UV ~ NIR 帯域をカバーしており、テトラセン ダイマーや CdSe 量子ドットなどのさまざまなサンプルに適しており、UV ~ NIR 範囲全体で優れた性能を発揮します。
高解像度: 時間解像度 ≤1.5×フェムト秒レーザーパルス幅。空間分解能 ≤1μm (顕微鏡ダイナミクスイメージングモジュール)。過渡プロセスの正確な捕捉を可能にし、光触媒やペロブスカイト太陽電池におけるキャリア移動研究をサポートします。
オートメーションとインテリジェンス: 完全に自動化された光パス切り替え/キャリブレーションにより、動作の安定性が保証されます。データ収集/解析用の統合ソフトウェアにより実験効率が向上します。
高い拡張性: モジュラー設計により、柔軟な構成アップグレードが可能です。
仕様
主要
時間分解マイクロイメージングモジュール
| モード | 顕微分光法取得/広視野TAイメージング/キャリア拡散イメージング |
| 空間解像度 | ≤1μm |
| 波長範囲 | 400~800nm |
| キャリア移行の精度 | 100nm |
ナノ秒TAアップグレードモジュール
| モード | 透過/反射切り替え可能 | |
| スペクトル検出範囲 | 360~1700nm | |
| タイムウィンドウ | ≤ 450μs | |
| 時間分解能 | 1ns | |
| 最大検出感度 | ≤ 0.1 mOD | |
| NS-SCレーザー | スペクトル範囲 | 350~1800nm |
| パルス幅 | ~800ps | |
| 繰り返し率 | 2KHz | |
| 電力の安定性 | ±1% | |
| 総平均光パワー | >5mW | |
電気励起モジュール
| 最大電圧 | ±5V(±10V) |
| パルス幅 | 6ns~999.99秒 |
| 繰り返し率 | 1μHz~80MHz |
| 電気パルス立ち上がり時間 (0-5 V) | ≤5 ns (デフォルト)、オプション ≤2 ns |
超高速過渡吸収の応用例
UV範囲データ
サンプル実験
| サンプル | ペロブスカイト薄膜 |
| 励起波長 |
405nm |
| プローブ波長 | 紫外線 |

可視範囲データ
サンプル実験
| サンプル | Ni-TPA |
| 励起波長 |
370nm |
| プローブ波長 | 見える |

NIR 範囲データ
サンプル実験
| サンプル | 黒鉛 |
| 励起波長 |
495nm |
| プローブ波長 | 近赤外線 |

マイクロトランスミッションTA
サンプル実験
| サンプル | 単層WS 2 (基板:サファイア) |
| 励起波長 |
515nm |
| プローブ波長 | 見える |

マイクロリフレクションTA
サンプル実験
| サンプル | 多層WS 2 (基板:Si) |
| 励起波長 |
515nm |
| プローブ波長 | 見える |

広視野TAイメージング
サンプル実験
| サンプル | 単層WS2 |
| 励起波長 |
515nm |
| プローブ波長 | 610nm |

近赤外線イメージング
サンプル実験
| サンプル | WS2 |
| 励起波長 |
515nm |
| プローブ波長 | 900nm |

キャリア移行データ図
サンプル実験
| サンプル | ペロブスカイト型フルオロオキシチタン酸銅 |
| 励起波長 |
650nm |
| プローブ波長 | 800nm |
