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| O LFP100 foi projetado para sondar processos dinâmicos em materiais em uma escala de tempo que varia de nanossegundos a segundos. O sistema apresenta um design de detector duplo que atinge uma excelente relação sinal-ruído de 0,1 mOD, enquanto cobre uma ampla faixa espectral de 250-900 nm, com extensões opcionais para detecção de infravermelho próximo e infravermelho médio. | |||||||||
Visão geral dos produtos
O LFP100 foi projetado para sondar processos dinâmicos em materiais em uma escala de tempo que varia de nanossegundos a segundos. O sistema apresenta um design de detector duplo que atinge uma excelente relação sinal-ruído de 0,1 mOD, enquanto cobre uma ampla faixa espectral de 250-900 nm, com extensões opcionais para detecção de infravermelho próximo e infravermelho médio.
Equipado com osciloscópio de 500 MHz, o sistema oferece resolução de tempo de até 5 ns. Juntamente com um laser DPSS de nanossegundos, garante longa vida útil, alta estabilidade e comutação de comprimento de onda totalmente automatizada.
O sistema também é compatível com testes de vida útil de fluorescência e pode ser equipado com uma câmera fechada (ICMOS) para aquisição espectral/cinética com resolução de tempo rápida e contínua.
Especificações
Principais Indicadores Técnicos
| Fonte de luz | Lâmpada de xenônio |
| Faixa espectral | 185-2000nm |
| Modo | Modo de transmissão |
| Faixa de detecção espectral | 250-900 nm |
| Sensibilidade | ≤1 MOD |
| Janela de tempo | ≤0,1 s (depende da taxa de repetição do laser) |
| resolução de tempo | ≤10ns |
Laser OPO de nanossegundos DPSS
| Comprimentos de onda de saída do laser | 1064/532/355/266nm |
| Comprimento de onda ajustável OPO | 210-350 nm/420-700 nm/720-2300 nm |
| Programas | Aquisição, análise e ajuste de dados e muito mais. |
Outros conteúdos expansíveis
| Faixa de detecção do módulo NIR | 900-1600 nm |
| Faixa de detecção do módulo MIR | 1-12 μm |
| Aquisição espectral rápida | Detector IsCMOS, obturador óptico 3 ns |
Aplicativo
