| 가용성: | |||||||||
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| TPL300-UV는 연구 등급 정립 현미경과 정밀 XY 스테이지를 통해 시간-스펙트럼-공간 분해능을 결합합니다. 자동화된 형광 수명 이미징, SHG/Raman 매핑, UV 여기 측정(최저 200nm 감지/206nm 여기)이 가능합니다. | |||||||||
제품특징
고해상도 이미징: 반도체 웨이퍼의 결함 감지를 위한 20ps/1μm 이하의 해상도.
다중 여기: 206/257/343/515nm 파장.
비파괴: 샘플 손상 없이 웨이퍼 품질 관리가 가능합니다.
확장 가능: Raman/SHG/광전류 이미징 모듈을 지원합니다.
명세서
일반적인 매개변수
| 형광 수명 테스트 파장 | 220-600nm |
| 형광 분광학 테스트 파장 | 200-1000nm |
| 시간 해상도 | 20ps 이하 |
| 공간 해상도 | 1μs 이하 |
| 이미징 기능 | 형광 강도 또는 스펙트럼 이미징/형광 수명 이미징/DUV 이미징 |
| 이미징 범위 | 맞춤형 |
| 여기 파장 | 206nm/257nm/343nm/515nm |
확장 기능
| 확장 모듈 | 라만, SHG(2차 고조파 발생), 광전류 및 기타 이미징 모듈. |
| 고객 요구 사항 | Cryostat, Diamond Anvil Cell, 자기장 등 외부 조건으로의 확장 지원 |
애플리케이션



